Представляем дайджест новостей и событий АРПЭ за прошедшую неделю.
В Зеленограде разработано отечественное решение для автоматического контроля качества микросхем на базе искусственного интеллекта. Система с точностью до 96% выявляет дефекты кристаллов после резки пластин, превосходя по точности традиционный визуальный контроль.
30 октября 2025 года АРПЭ проводит конференцию «Инвестиции в разработки и производство электроники» в Москве.
Цель конференции - сопоставить реальные инвестиционные потребности компаний отрасли с мерами инвестиционной поддержки и инструментами привлечения инвестиций, согласовать запрос на развитие системы инвестиционной поддержки.